Вход на сайт

Просмотр новости

Найдите то, что Вас интересует

Доклад «Тестирование СВЧ элементов с малыми габаритными размерами (менее 3 мм)» на конференции «Испытание и тестирование изделий электронной техники»

Дата публикации: 03-08-2026 10:38:42

С докладом  «Тестирование СВЧ элементов с малыми габаритными размерами (менее 3 мм)» на конференции «Испытание и тестирование изделий электронной техники» 22 октября в Москве выступит Петр  Черников,  руководитель участка параметрического контроля АО «ТЕСТПРИБОР» .  Существуют универсальные контактирующие устройства для проверки ЭРИ с размерами меньше 3 мм. При этом для проверки СВЧ элементов они не подходят – наличие в...
Сообщение Доклад «Тестирование СВЧ элементов с малыми габаритными размерами (менее 3 мм)» на конференции «Испытание и тестирование изделий электронной техники» появились сначала на Время электроники.


Основное содержимое страницы с новостью.

Конференция состоится 22 октября в Москве

С докладом  «Тестирование СВЧ элементов с малыми габаритными размерами (менее 3 мм)» на конференции «Испытание и тестирование изделий электронной техники» 22 октября в Москве выступит Петр  Черников,  руководитель участка параметрического контроля АО «ТЕСТПРИБОР» .

 Существуют универсальные контактирующие устройства для проверки ЭРИ с размерами меньше 3 мм. При этом для проверки СВЧ элементов они не подходят – наличие в них паразитных индуктивностей и емкостей сильно влияет на прохождение СВЧ сигнала. Что не позволяет корректно измерить S параметры. Цель доклада — ответить на вопрос, какие конструктивные элементы необходимо использовать для изготовления оснастки, чтобы законтактировать и проверить СВЧ элементы размером менее 3 мм. Были продуманы варианты контактирования малогабаритных ЭРИ. Была разработана и изготовлена оснастка, произведены удачные замеры СВЧ параметров. Доклад содержит эскизы и фото конструктивных элементов оснастки для проверки СВЧ ЭРИ с размерами менее 3 мм. 

Сайт конференции: https://b2bconf.ru/testing/ 

Схожие новости

#Наименование новостиТональностьИнформативностьДата публикации
1Доклад «Особенности изготовления СВЧ плат для оснасток с рабочими частотами от 2 до 10 ГГц» на конференции «Испытание и тестирование изделий электронной техники»010.5629-07-2026
2Развитие системы «СВЧ КИТ»: собственный прижимной разъём, измерительная оснастка и расширение отечественной ЭКБ06.5216-08-2026
3Доклад «Испытательное оборудование на входном контроле» на конференции «Испытание и тестирование изделий электронной техники»06.3410-08-2026
4Доклад «Входной контроль электронных компонентов на пластине и в корпусе» на конференции «Испытание и тестирование изделий электронной техники»04.9113-08-2026
5Отечественные СВЧ генераторы и ваттметры с уникальными характеристиками от компании «Миг Трейдинг»09.9709-08-2026
6ООО НПП «Универсал Прибор» — Флагманский Партнер конференции «Испытание и тестирование изделий электронной техники»17.0412-08-2026
7ЗНТЦ разработает отечественный сканирующий электронный микроскоп013.906-08-2026
8Россия создает собственную САПР для проектирования СВЧ ИС06.1216-03-2026
9Ученые из России определили фундаментальный предел миниатюризации сверхпроводниковых устройств09.8423-07-2026

Классификация: Наука. Схожих патентов: 0. Схожих новостей: 9. Тональность: 0. Информативность: 8.13. Источник: russianelectronics.ru.