Конференция пройдет 22 октября в Москве

С докладом «Технологии импортозамещения в функциональном тестировании электронной техники: от перехода на отечественные PXIe/AXIe платформы, готовые решения по тестированию микросхем и созданию рабочих мест по функциональному тестированию РЭО» на конференции «Испытание и тестирование изделий электронной техники» 22 октября в Москве, выступит Зайченко Сергей, генеральный директор ГК Информтест.

В условиях необходимости обеспечения технологического суверенитета контрольно-измерительной отрасли, переход на отечественные программно-аппаратные комплексы становится приоритетной задачей. Доклад посвящен практическому опыту создания автоматизированных систем функционального контроля и тестеров микросхем серии MST (тестеры MST-14 внесены в Госреестр) на базе российских стандартизированных платформ PXIe (согласно ГОСТ Р 71289-2024) и AXIe-1 (согласно ГОСТ Р 58286-2018).

В рамках выступления будут рассмотрены следующие ключевые аспекты:

Переход от зарубежных решений: Анализ опыта миграции с измерительных рабочих мест на базе оборудования National Instruments (NI) на отечественные аналоги. Будут продемонстрированы примеры замещения систем, обеспечивающие полную функциональную совместимость и точностные характеристики.

Специализированные решения для тестирования микросхем: Обзор архитектуры высокопроизводительных тестеров микросхем, построенных на базе стандарта AXIe. Особое внимание уделено модулям с высокой плотностью каналов и поддержкой скоростных интерфейсов, необходимых для комплексной проверки современных интегральных схем.

Функциональное тестирование сложного РЭО: Презентация возможностей базового комплекса КПА «Информтест», который позволяет интегрировать смешанные системы (статические и динамические модули) в одном шасси. Доклад продемонстрирует, как использование открытых международных стандартов позволяет гибко масштабировать системы под конкретные задачи испытаний.

Программная независимость: Переход на использование отечественных операционных систем (в частности, Astra Linux) и развитие собственного стека программного обеспечения для управления испытаниями. Мы обсудим возможности разработки пользователями собственных циклограмм тестирования, что существенно сокращает время вывода изделий на производственный цикл.

Данный доклад будет полезен инженерам-разработчикам, специалистам по сертификации и руководителям отделов испытаний, планирующим модернизацию парка измерительного оборудования с учетом актуальных государственных стандартов и задач по импортозамещению.

Сайт конференции: https://b2bconf.ru/testing/